三维表面形貌测量系统PCB抄板及克隆技术

　　该款三维表面形貌测量系统是汇天PCB抄板科技有限公司反向研发而成的，它采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。
　　技术参数
　　垂直测量范围：27mm
　　垂直分辨率：<2nm
　　扫描速度 1m/s
　　横向分辨率：5nm
　　可视区域： 400*600mm
　　主要特点
　　1 采用白光轴向色像差技术，可获得纳米级的分辨率
　　2 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高
　　3 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
　　4 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
　　5 不受样品反射率的影响
　　6 不受环境光的影响
　　7 测量简单，样品无需特殊处理
　　8 Z方向最大测量范围为27mm
　　汇天PCB抄板科技有限公司是一家实力雄厚的商业型反向技术研发机构，长期承接一切电子产品的抄板克隆及二次开发业务，丰富的经验和精湛的技术保障一次性百分百成功，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈。